Título : A comparison of different approaches for depth profiling of films and coatings by confocal Raman microscopy
Editorial : Elsevier Science Sa
Fecha de publicación : may-2012
metadata.dc.source.uri: http://hdl.handle.net/11336/54043
URI : http://rodna.bn.gov.ar:8080/jspui/handle/bnmm/298110
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