Registro completo de metadatos
| Campo DC | Valor | Lengua/Idioma |
|---|---|---|
| dc.provenance | Facultad de Ciencias Exactas y Naturales de la UBA | - |
| dc.contributor | Martínez, Oscar Eduardo | - |
| dc.contributor | Bragas, Andrea Verónica | - |
| dc.creator | Bragas, Andrea Verónica | - |
| dc.date.accessioned | 2018-05-04T21:59:10Z | - |
| dc.date.accessioned | 2018-05-28T16:35:41Z | - |
| dc.date.available | 2018-05-04T21:59:10Z | - |
| dc.date.available | 2018-05-28T16:35:41Z | - |
| dc.date.issued | 1999 | - |
| dc.identifier.uri | http://10.0.0.11:8080/jspui/handle/bnmm/73599 | - |
| dc.description | En esta Tesis se ha desarrollado una nueva técnica de caracterización óptica de superficies con resolución nanométrica. A la mencionada tecnica se le ha dado el nombre de Microscopio Óptico de Barrido por Intensificación de Campo (FESOM). El principio de operación de esta nanoscopía se basa en la intensificación del campo eléctrico de la luz en las vecindades de una punta metálica, iluminada por un láser, que se acerca a distancias atómicas de una superficie. El campo intensificado actúa como sonda local e intensa, muy localizada, que interactúa con la superficie generando una radiación que contiene información óptica de la superficie sensada, con altísima resolución lateral. Se ha demostrado, de las imágenes obtenidas, una resolución mejor que 6nm en muestras metálicas. La técnica puede ser fácilmente extendida a muestras semiconductoras o aislantes, utilizando la misma señal óptica generada como señal de realimentación del circuito de control. | - |
| dc.description | We present the experimental results of a new optical image technique with nanometric resolution, called Field Enhanced Scanning Optical Microscope (FESOM). This technique uses as a local probe, the optical field enhanced at an STM tunnel junction illuminated by a laser light. The enhanced field at the metallic tip acts as a very strong and localized field source, producing a radiation that it is tightly related with the optical properties of the sample under investigation. Optical images of metallic samples show a lateral resolution as high as 6nm. | - |
| dc.description | Fil:Bragas, Andrea Verónica. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales; Argentina. | - |
| dc.format | application/pdf | - |
| dc.language | spa | - |
| dc.publisher | Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Universidad de Buenos Aires | - |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | - |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by/2.5/ar | - |
| dc.source.uri | http://digital.bl.fcen.uba.ar/gsdl-282/cgi-bin/library.cgi?a=d&c=tesis&d=Tesis_3196_Bragas | - |
| dc.subject | SCANNING TUNNELING MICROSCOPE | - |
| dc.subject | LASER | - |
| dc.subject | FIELD ENHANCEMENT | - |
| dc.subject | MICROSCOPIO DE EFECTO TUNEL | - |
| dc.subject | LASER | - |
| dc.subject | INTENSIFICACION DE CAMPO | - |
| dc.title | Interacciones de la luz con una unión túnel (en un Microscopio de Efecto Túnel) | - |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/doctoralThesis | - |
| dc.type | info:ar-repo/semantics/tesis doctoral | - |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | - |
| Aparece en las colecciones: | FCEN - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. UBA | |
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