Nueva búsqueda Filtrar búsqueda

Filtros actuales:




Resultados 1-10 de 24.
Resultados por ítem:
Fecha de publicaciónTítulo???itemlist.dc.creator.*??????itemlist.dc.provenance???
1982New spectroscopic results in Xe II, Xe III, and Xe IVReyna Almandos, Jorge Guillermo; Gallardo, Mario; Garavaglia, Mario J.Comisión de Investigaciones Científicas
1980Compact device for interferometric holographyZerbino, Lía; Rabal, Héctor J.; Garavaglia, Mario J.Comisión de Investigaciones Científicas
jul-1979A Xenon Ion Pumped Open Dye Stream LaserGallardo, Mario; Duchowicz, Ricardo; Tocho, Jorge Omar; Ranea Sandoval, Héctor F.; Garavaglia, Mario J.Comisión de Investigaciones Científicas
1987Walsh functions: analysis of their properties under Fresnel diffractionColautti, C.; Ruiz, Beatriz; Sicre, Enrique Eduardo; Garavaglia, Mario J.Comisión de Investigaciones Científicas
oct-1977Comments on the Ionic Assignment of Xenon Laser Lines at 3306 ÅLluesma, Eliseo Gallego; Tagliaferri, Ángel A.; Massone, Carlos A.; Garavaglia, Mario J.; Gallardo, MarioComisión de Investigaciones Científicas
1979$latex 5s^{2} 5p^{3} (^{4}S)nl $ Levels of Xe IIIGallardo, Mario; Massone, Carlos A.; Tagliaferri, Ángel A.; Garavaglia, Mario J.Comisión de Investigaciones Científicas
13-oct-1990Hidden grids, moiré patterns and optoelectronically measurement of distancesGaravaglia, Mario J.; Laquidara, Aníbal PabloComisión de Investigaciones Científicas
1990Surface roughness measurement through a speckle methodRusso, Nélida Araceli; Bolognini, Néstor; Sicre, Enrique Eduardo; Garavaglia, Mario J.Comisión de Investigaciones Científicas
1979Alineación empleando un sistema óptico de enfoque y un láser.Zerbino, Lía; Rabal, Héctor J.; Ranea Sandoval, Héctor F.; Tocho, Jorge Omar; Garavaglia, Mario J.Comisión de Investigaciones Científicas
oct-1980Color storage and image processing through Young's fringes modulated speckleSicre, Enrique Eduardo; Bolognini, Néstor; Rabal, Héctor J.; Garavaglia, Mario J.Comisión de Investigaciones Científicas