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| Fecha de publicación | Título | ???itemlist.dc.creator.*??? | ???itemlist.dc.provenance??? |
|---|---|---|---|
| 13-oct-1990 | Hidden grids, moiré patterns and optoelectronically measurement of distances | Garavaglia, Mario J.; Laquidara, Aníbal Pablo | Comisión de Investigaciones Científicas |
| 1990 | Surface roughness measurement through a speckle method | Russo, Nélida Araceli; Bolognini, Néstor; Sicre, Enrique Eduardo; Garavaglia, Mario J. | Comisión de Investigaciones Científicas |
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