Buscar por Autor Albanesi, Eduardo Aldo
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ago-2004 | Determinacion de las funciones dielectricas del semiconductor PbI2 | Naudi, Andrés Alberto; Albanesi, Eduardo Aldo | - |
24-feb-2017 | Effect of residual stress on the optical properties of CsCl thin films | Kumar, K.; Arun, P.; Kant, C.; Mehra, N.; Makinistian, Leonardo; Albanesi, Eduardo Aldo | CONICET |
10-dic-2017 | Estudio de las funciones dieléctricas del semiconductor sulfuro de plomo | Albanesi, Eduardo Aldo; Repetto, G.H.; Peltzer y Blancá, E.; Dominguez, F. | - |
jun-2016 | Grain size and lattice parameter's influence on band gap of SnS thin nano-crystalline films | Gupta, Yashika; Arun, P.; Naudi, Andrés Alberto; Walz, M. V.; Albanesi, Eduardo Aldo | - |