Buscar por Autor Sicre, Enrique Eduardo
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Fecha de publicación | Título | ???itemlist.dc.creator.*??? | ???itemlist.dc.provenance??? |
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1990 | Surface roughness measurement through a speckle method | Russo, Nélida Araceli; Bolognini, Néstor; Sicre, Enrique Eduardo; Garavaglia, Mario J. | Comisión de Investigaciones Científicas |
1987 | Walsh functions: analysis of their properties under Fresnel diffraction | Colautti, C.; Ruiz, Beatriz; Sicre, Enrique Eduardo; Garavaglia, Mario J. | Comisión de Investigaciones Científicas |
1987 | Walsh functions: analysis of their properties under Fresnel diffraction | Colautti, C.; Ruiz, Beatriz; Sicre, Enrique Eduardo; Garavaglia, Mario J. | Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Económicas |