Buscar por Autor Rubinelli, Francisco Alberto
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| Fecha de publicación | Título | ???itemlist.dc.creator.*??? | ???itemlist.dc.provenance??? |
|---|---|---|---|
| 9-mar-2017 | Photogating effect as a defect probe in nanocrystalline silicon cells | Li, Hongbo B. T.; Schropp, Ruud E. I.; Rubinelli, Francisco Alberto | - |